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智芯微电子层间介质膜专利,半导体结构优化
专利背景近日,国家知识产权局信息显示,北京智芯微电子科技有限公司申请了一项名为“层间介质膜形成方法、半导体结构和芯片”的专利,公开号为CN 119743992 A,申请日期为2024年12月。专利技术解析该专利主要涉及层间介质膜的形成方法、···
专利背景近日,国家知识产权局信息显示,北京智芯微电子科技有限公司申请了一项名为“层间介质膜形成方法、半导体结构和芯片”的专利,公开号为CN 119743992 A,申请日期为2024年12月。专利技术解析该专利主要涉及层间介质膜的形成方法、···